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光ファイバー
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​検査装置

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LD芯片測試機

LD2900TB

概　　要

本裝置為LD測試系統，用於檢測Bare Chip狀態下的長波長（用於光通信）激光二極管的電氣和光學特性，可自動進行測量和分類。

LD2900TB在單一溫度（20°C至95°C）下測量“ IL（前/後）”，“ IV”，“ Ir，Vr”和“波長”等測量項目。

可以根據客戶需求添加項目，例如“ OCR功能”，“ RF高頻疊加”和“ EA測量”。

 測定対象

激光二極管Bare Chip

​

*請與我們獲取更多芯片尺寸和形狀信息。

供給形態

・6“供給環ｘ1

​収納分類形態

・ 6“供給環x2

+ NG Shooter

 

*可以選擇凝膠包裝。請與我們聯係。

測量轉台/測量台面

・轉盤方式（1個/溫度）

・ 2 Stations/ TT型

位置1：供應，存儲，計量位置

位置2：探測，測量位置

（IL測量（前/後），IV測量，Ir，Vr測量，波長測量）

・測量臺面：2個臺面

       接觸方式

・針形探針與上方電極接觸，下方電極與測試台面接觸。

温度範囲

・20℃～95℃

設定項目

標準項目

・ IL測量（CW，Pulse）前/後同步測量

・ Ir / Vr測量

・波長測量：標準兼容設備

安立MS9740B

橫河AQ6360

​

可選項目

・ OCR字符讀取

・射頻高頻疊加

・ EA量測

   詳細：

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