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光ファイバー
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​検査装置

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LDチップテスタ

LD2920TB
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概　　要

本装置は長波長(光通信用)レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。

LD2900TBは2温度（常温/高温（20℃～95℃））で「Ｉ－Ｌ測定（FRONT/BACK）」、「I-V測定」、「Ir,Vr測定」、「波長測定」の測定項目を計測します。

オプションで「OCR機能」「RF高周波重畳」「EA測定」など、お客様の必要項目を追加可能です。

 測定対象

レーザーダイオードベアチップ

​

※チップサイズ、形状はご相談ください

供給形態

・6“グリップリングｘ1

​収納分類形態

・6“グリップリングｘ3

    +NGシュータ　

　　　　　

※オプションでゲルパック対応が可能です。ご相談下さい。

測定台/測定ホルダ

・インデックスターンテーブル方式（2基/2温度）

・2ステーション/TTｘ2TT式

　ポジション1：供給、収納、ゲージングポジション

　ポジション2：プロービング、測定ポジション

（Ｉ－Ｌ測定（FRONT/BACK）、I-V測定、Ir,Vr測定、波長測定）

・測定ホルダ：2ホルダｘ2TT

温度範囲

・20℃～95℃

 コンタクト方式

・ニードル式プローブで上面電極にコンタクト、下面電極は測定ステージによってコンタクト

設定項目

標準項目　常温/高温

・Ｉ－Ｌ測定（ＣＷ、Ｐｕｌｓｅ）FRONT/BACK(常温)　同時測定

・Ｉｒ／Vｒ測定

・波長測定：標準対応機器

　ANRITSU　MS9740B

　YOKOGAWA　AQ6360

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オプション項目

・OCR　文字読み取り

・RF高周波重畳

・EA　測定​

 ​詳しく：

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