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光ファイバー
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​検査装置

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LD芯片測試機

LD2920TB
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概　　要

該設備是LD測試系統，可用於檢測Bare Chip狀態長波長（用於光通信）激光二極管的電氣和光學特性並自動測量和分類。

LD2900TB可在兩個溫度（常溫/高溫（20°C至95°C））下同時測量“ IL（正向/反向）”，“ IV”，“ Ir，Vr”和“波長”等項目。

可根據客戶需求添加項目，例如“ OCR功能”，“ RF高頻疊加”和“ EA測量”。

 測定対象

激光二極管裸芯片

​

*請聯繫我們獲取更多芯片尺寸和形狀信息。

供給形態

・6“供給環ｘ1

​収納分類形態

・ 6“供給環x3

+ NG Shooter

 

*可以選擇凝膠包裝。請聯繫我們。

測定轉台/測定台面

・轉盤方式（2個單位/ 2個溫度）

・ 2　Stations/ TTx2TT型

位置1：供應，存儲，計量位置

位置2：探測，測量位置

（IL測量（前/後），IV測量，Ir，Vr測量，波長測量）

・測量台面：2個台面x 2TT

温度範囲

・20℃～95℃

      接觸方式

・針形探針與上方電極接觸，下方電極與測試台面接觸。

設定項目

標準項目

常溫/高溫

・ IL測量（CW，脈衝）FRONT / BACK（常溫）同時測量

・ Ir / Vr測量

・波長測量：標準兼容設備

安立MS9740B

橫河AQ6360

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可選項目

・ OCR字符讀取

・射頻高頻疊加

・ EA量測

   詳細：

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