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検査装置
LD芯片測試機
LD2920MTB
概 要
該設備是LD測試系統，可用於檢測Bare Chip狀態長波長（用於光通信）激光二極管的電氣和光學特性並自動測量和分類。
LD2920MTB在2個溫度（常溫/低溫或高溫（-40°C至95°C））下，測量“ IL（前/後）”，“ IV”，“ Ir，Vr”，
“波長”）等項目。
可以根據客戶需求添加項目，例如“ OCR功能”，“ RF高頻疊加”和“ EA測量”。
測定対象
激光二極管Bare Chip
*請聯繫我們獲取更多芯片尺寸和形狀信息。
供給形態
・6“供給環ｘ1
収納分類形態
・ 6“供給環x3
+ NG Shooter
*可以選擇凝膠包裝。請聯繫我們。
測定轉台/測定台面
・轉盤方式（2個單位/ 2個溫度）
・ 2站/ TTx2TT型
位置1：供應，存儲，計量位置
位置2：探測，測量位置
（IL測量（前/後），IV測量，Ir，Vr測量，波長測量）
・測量台面：2個台面x 2TT
温度範囲
・-40℃～95℃
Champer測試室/供應/取出箱
測量室具有Champer(恆溫恆濕)結構，並且在-40°C測試期間，測量室内會充滿乾燥的空氣或N2氣體以防止結露。藍膜環可以通過左側和右側的通行盒進出測量室。
接觸方式
・針形探針與上方電極接觸，下方電極與測試台面接觸。
設定項目
標準項目
常溫/低溫或高溫
・ IL測量（CW，脈衝）前/後（僅常溫）同時測量
・ Ir / Vr測量
・波長測量：標準兼容設備
安立MS9740B
橫河AQ6360
可選項目
・ OCR字符讀取
・射頻高頻疊加
・ EA量測
詳細：
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