本装置はベアチップ状態のMulti beam VCSELの電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。Flip chip　Multi beam VCSEL　(上面発光、下面2電極)と通常のMulti beam VCSEL（上面発光、上下面電極）の兼用機です。ホルダを交換することなく2種類のチップに対応可能です。測定項目は「Ｉ-Ｌ/I-V測定」「波長測定」「NFP測定」です。