検査装置

LD芯片測試機

本設備是LD測試系統，用於檢測Bare Chip多光束VCSEL的電學和光學特性并且自動高速測量和分類。倒裝芯片多束VCSEL（頂部發射，底部2個電極）和常規多束VCSEL（頂部發射，頂部和底部電極）。無需更換台面就可以對應兩種類型的芯片。測量項目為“ IL / IV”，“波長”和“ NFP”。

倒裝芯片多光束VCSEL裸芯片

多光束VCSEL Bare Chip

* CW6A，PULSE10A，10W

・供給：6“供給環ｘ1

・収納：Bin Block　ｘ6

・轉盤方式（1個/溫度）

・ 4 Stations/ TT型測量為2 Stations，供應和收納為2 Stations。

・測量台面：4個台面

・20℃～90℃

標準項目

・ IL / IV測量，Ir / Vr測量（CW，脈衝）

・波長測量：OCEAN OPTICS Maya 2000PRO

・ NFP測量（多光束評估）

詳細：