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光ファイバー
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​検査装置

浅蓝色背景.png

高出力タイプLDテスタ

LD4500DAT
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概　　要

本装置はCOS,CHIP状態の超高出力レーザーの電気特性、光学特性を自動的に測定・選別するＬＤテストシステムです。

 測定対象

COS　L=3000～6000μｍ、W=3000～6000μｍ

CHIP　L=2000～5000μｍ、W=300～600μｍ

​

30A,30W　400-1000nm

​

※詳細形状、仕様は都度ご相談下さい。

供給・収納形態

COS　：2” gel pack ｘ1　(供給),  2” gel pack ｘ3　(収納)

CHIP　：6”grip ring ｘ1　(供給),  6”grip ring ｘ2 or　2” gel pack ｘ3　(収納)

温度制御方式・範囲

・ペルチェ,水冷循環より制御​

・25℃～95℃

設定項目

・Ｉ－Ｌ測定（ＣＷ、Ｐｕｌｓｅ）

・ＦＦＰ測定（垂直）(±45°)

・ＦＦＰ測定（水平）(±45°)

・Ir／VrLD（ＬＤ逆電流、逆電圧）

・波長測定

​　短波：　Ocean optics HR4000​

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