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検査装置
LD モジュールテスタ
LD4300B
準備中
概 要
本装置は長波長LDモジュールの電気特性、光学特性を自動的に測定するLDテストシステムです。
LDモジュール温度を内部・外部でコントロールして各特性を測定します。
各種LDモジュールに対応可能です。
測定対象
LDモジュール
素子形状: バタフライタイプ、DIPタイプ、同軸タイプ(5.6φ)
ファイバ先端形状:FCコネクタ型、SCコネクタ型
※詳細形状、仕様は都度ご相談下さい。
供給形態
・各種専用治具
温度制御
・内部温度制御 ペルチェ
・外部温度制御 空冷式およびサーモモジュール
設定項目
標準項目
・I-L測定(CW、Pulse)
・IrLD/IrPD/Im(LD逆電流/PD逆電流/Im電流)
・波長測定
長波: ANRITSU MS9740B、 YOKOGAWA AQ6360
・クーラー特性(ペルチェ) (抵抗値、動作電圧、動作電流値)
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