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検査装置
研發用LD測試機
LD342L/S -RT/LT
概 要
該設備是用於研發的台式LD測試系統,可半自動測量TO-CAN,裸芯片,COS和COC狀態下的長波/短波激光二極管的電氣和光學特性。
測定対象
TO-CAN Package :φ5.6、φ9.0、Bare Chip、COS,COC (對應各種夾具)
※關於其他特殊封裝請與我們聯係。我司會準備専用夾具。
長波長LD:L型、短波長LD:S型
温度控制方式・範囲
・溫度由Peltier、水冷器控制
・-40℃~95℃:LT型、・20℃~95℃:RT型、
設定項目
標準項目
・ IL測量(CW,脈衝)
・ FFP測量(垂直)
・ FFP測量(水平)
-IrLD / IrPD / Im(LD反向電流/ PD反向電流/ Im電流)
・波長測量
長波:ANRITSU MS9740B,橫河AQ6360
短波:YOKOGAWA AQ6373B
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