検査装置

芯片測試機/

該設備是一種LD測試系統，可以自動測量處於Chip bar狀態的長波長SOA陣列的電氣和光學特性。將SOA陣列設置在特殊夾具上，用監視攝像機調整位置，並自動進行“ IL / IV測量”，“ FFPV，H測量”和“波長測量”。

SOA陣列諧振器長度：〜6000μm，Chip bar長度：5〜20 mm

・專用夾具x1

・20℃～95℃

標準項目

・ IL / IV測量，Ir / Vr測量（CW，脈衝）

・ FFP測量（垂直）

・ FFP測量（水平）

・波長測量：標準兼容設備

長波：ANRITSU MS9740B，橫河AQ6360

* TM / TE濾波器自動切換。 1530/1540/1550 / 1560nm每個波長濾波器都是手動切換的。（FFP測量）

* TM / TE濾波器和1530/1540/1550 / 1560nm波長濾波器會自動切換。（波長測量）

詳細：